Multimodale Defektanalyse

Hochschule Hamm-Lippstadt, Hamm/Lippstadt

Zahlreiche Defekte in technischen Produkten haben ihre Ursachen in mikroskopisch kleinen Fehlern, die entsprechend schwer zu erkennen sind. Um die Detektion zu verbessern, wurde an der HSHL unter der Leitung von Prof. Dr. Jörg Meyer und Prof. Dr. Christian Thomas ein Verfahren zur positionsgenauen Verknüpfung unterschiedlicher Methoden der Mikrocharakterisierung entwickelt. Hierdurch können nun Defekte über mehrere Größenordnungen hinweg analysiert und die Ergebnisse somit multimodal ausgewertet werden.
So lassen sich beispielsweise elektrische Verbindungen und Kontakte auch innerhalb von gekapselten Bauteilen präzise überprüfen. Mechanische Defekte an beanspruchten Elementen können sichtbar gemacht und ihre Ursachen auf mikroskopischer Ebene festgestellt werden. Darüber hinaus lässt sich diese Methode einsetzen, um die Qualität von Leuchtmitteln zu überprüfen, die sogar während der mikroskopischen Untersuchungen noch aktiv betrieben werden können. Dies ermöglicht Aussagen darüber, wie effizient und funktional die verbauten Materialien sind. Außerdem lassen sich so Fehler vermeiden und die Lebensdauer erhöhen.